RESOChron雙年代測試系統激光剝蝕（U-Th）/He熱年代學可以獲得精確定義的、無缺陷的晶體體積，具有已知的表面積，從而克服了傳統的單顆粒晶體測量方法的兩個不確定性，能夠對多個礦物顆粒進行快速的

J200 Femto iX LA 激光燒蝕（LA）是高度成功和久經考驗的J200 Femto LA儀器的下一步發展，J200 Femto LA儀器在世界上擁有大的安裝量，能運輸氣體控制，自動樣品高度調節，高分辨率3D樣品臺，創新的樣品池和LIBS（激光誘導擊穿光譜）附加功能，飛秒可以解決LA-ICP-MS分析的LA儀器。

J200 LA-LIBS 激光剝蝕-激光誘導擊穿光譜復合系統能夠快速而準確地識別復雜的LIBS發射峰，有助于分析人員有效地處理LIBS峰值并獲得定量結果，從而大大縮短數據分析時間，時間分辨ICP-MS信號也可以非常流暢，

J200飛秒激光剝蝕進樣系統（LA）的技術研發均為美國勞倫斯伯克利國家實驗室的科研人員，研發的理念就是使元素化學分析簡單快速化，測量結果標準化，分析過程綠色化，設備采用了一種自動調高傳感器，該傳感器的設計考慮到了樣品表面的形態變化

J200飛秒激光剝蝕進樣系統用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式，包括光柵線狀、曲線、隨機點、任意尺寸網格或預先編制的模式， 長激光脈沖系統產生的樣品顆粒大（常大于數微米），駐留在輸送管中，導致運輸效率低